城大研發「緊湊型電子顯微鏡」減少樣本損傷 獲政府資助三年量產

撰文:韋景全
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現有的電子顯微鏡科技高成本、體積大,亦需要極度低溫環境以避免電子與研究樣本產生作用並導致輻照損傷。城市大學團隊研發「量子電子顯微鏡」的創新技術,實現電子束和樣本產生零作用,已開發出一款可在室溫下操作的緊湊型掃描與透射一體化的電子顯微鏡。

項目最近更獲創新科技署「產學研1+計劃」撥款資助,計劃未來三年內把這項高倍電子顯微鏡創新技術商品化。

城大材料科學及工程學系講座教授陳福榮領導的團隊,最近獲得創新科技署的「產學研1+計劃」撥款資助,計劃未來三年內把這項革命性的高倍電子顯微鏡創新技術商品化,推出市場及量產,為電子顯微技術帶來新的里程碑。

這項名為「脈衝空心錐掃描與透射一體化電子顯微鏡的商業化計劃」,透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopes,TEM)和掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscopes,SEM),是許多現代科研工作中必不可少的工具。

從生物樣本到納米結構,TEM及SEM電子顯微鏡都能提供超高放大率及極高解像度的圖像,幫助科研人員研究各種材料既複雜又精密的細節。

無論是透射還是掃描電子顯微鏡使用的高能量電子束,均會對脆弱的生物樣本造成嚴重的輻射損傷。陳教授的團隊研發出的尖端技術,創製了一種創新的「脈衝電子空心錐照明混合TEM/SEM電子顯微鏡」,克服及解決了現有電子顯微鏡的技術限制。

城大團隊的科項目,解決顯微鏡樣本被輻照損傷。(資料圖片)

團隊相信,新設計的電子顯微鏡最終可以做到在透射模式下觀測蛋白質和分子的3D立體結構,以及在掃描模式下觀測納米材料並應用於半導體和晶片檢測。

陳福榮表示,現時市場上並沒有電子顯微鏡產品的質量,能夠達到這個新系統的同等高質量。